国家知识产权局信息显示，中芯北方集成电路制造（北京）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司申请一项名为“测试结构、以及测试方法”的专利，公开号CN122227924A，申请日期为2024年12月。

专利摘要显示，一种测试结构、以及测试方法，测试结构包括：测试单元，测试单元包括栅极结构组，栅极结构组包括相邻且间隔设置的第一栅极结构和第二栅极结构；其中，第一栅极结构作为第一测试端或者电连接第一测试端，第二栅极结构作为第二测试端或者电连接第二测试端。本发明实施例的第二栅极结构与第一栅极结构相邻且间隔设置，则如果栅极结构所对应的材料残留在第一栅极结构和第二栅极结构之间，则材料残留的缺陷容易在测试过程中被发现，而且，第一栅极结构和第二栅极结构之间相对的长度较长，因此，更易于发现栅极结构的材料残留，从而提高了测试结果的可靠性，进而也提高了测试结构的可靠性。

天眼查资料显示，中芯北方集成电路制造（北京）有限公司，成立于2013年，位于北京市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本480000万美元。通过天眼查大数据分析，中芯北方集成电路制造（北京）有限公司参与招投标项目59次，专利信息159条，此外企业还拥有行政许可449个。

中芯国际集成电路制造（上海）有限公司，成立于2000年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本244000万美元。通过天眼查大数据分析，中芯国际集成电路制造（上海）有限公司共对外投资了4家企业，参与招投标项目119次，财产线索方面有商标信息234条，专利信息15010条，此外企业还拥有行政许可480个。

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